X-ray diffraction radiation in conditions of Cherenkov effect

A. A. Tishchenko, A. P. Potylitsyn, M. N. Strikhanov

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

14 Цитирования (Scopus)


X-ray diffraction radiation from ultra-relativistic electrons moving near an absorbing target is considered. The emission yield is found to increase significantly in conditions of Cherenkov effect.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)509-511
Число страниц3
ЖурналPhysics Letters, Section A: General, Atomic and Solid State Physics
Номер выпуска5
СостояниеОпубликовано - 4 дек 2006

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «X-ray diffraction radiation in conditions of Cherenkov effect». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать