USE OF THE POSITRON-ANNIHILATION METHOD TO STUDY THIN SURFACE LAYERS.

A. D. Pogrebnyak, V. A. Kuz'minykh, K. P. Aref'ev

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

Аннотация

Results from model calculations and experimental data are utilized to determine minimal thicknesses of layers of materials having different effective atomic numbers on a GaAs substrate, which can be studied by the positron-annihilation method using a **2**2Na( beta ** plus , gamma ) source.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)1128-1130
Число страниц3
ЖурналSoviet physics. Technical physics
Том26
Номер выпуска9
СостояниеОпубликовано - сен 1981

ASJC Scopus subject areas

  • Engineering(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «USE OF THE POSITRON-ANNIHILATION METHOD TO STUDY THIN SURFACE LAYERS.». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать