Time-of-Flight Optical Diagnostics of High-Power Pulsed Ion Beams

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

Аннотация

Abstract: An ablation of a thin layer of surface contamination of the target that self-recovers after each pulse of a powerful ion beam has been used to control ion fluences. Using a time-of-flight optical spectrometer, the average speeds of the lightest components of the ablative plasma, which are hydrogen and carbon, have been measured. and the ion fluence has been determined by their difference.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)354-356
Число страниц3
ЖурналTechnical Physics Letters
Том46
Номер выпуска4
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 апр 2020

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Time-of-Flight Optical Diagnostics of High-Power Pulsed Ion Beams». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать