Three-dimensional reciprocal space mapping of diffuse scattering for the study of stacking faults in semipolar (112 2) GaN layers grown from the sidewall of an r-patterned sapphire substrate

Sergey Lazarev, Sondes Bauer, Tobias Meisch, Martin Bauer, Ingo Tischer, Mykhailo Barchuk, Klaus Thonke, Vaclav Holy, Ferdinand Scholz, Tilo Baumbach

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

9 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Three-dimensional reciprocal space mapping of diffuse scattering for the study of stacking faults in semipolar (112 2) GaN layers grown from the sidewall of an r-patterned sapphire substrate». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Chemical Compounds

Medicine & Life Sciences