Three-axis MEMS accelerometer for structural inspection

Evgenii Sergeevich Barbin, Aleksei Nikolaevich Koleda, T. Nesterenko, S. Vtorushin

Результат исследований: Материалы для журнала

2 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Microelectromechanical system accelerometers are widely used for metrological measurements of acceleration, tilt, vibration, and shock in moving objects. The paper presents the analysis of MEMS accelerometer that can be used for the structural inspection. ANSYS Multiphysics platform is used to simulate the behavior of MEMS accelerometer by employing a finite element model and MATLAB/Simulink tools for modeling nonlinear dynamic systems.

Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи012003
ЖурналJournal of Physics: Conference Series
Том671
Номер выпуска1
DOI
СостояниеОпубликовано - 18 янв 2016
Событие3rd All-Russian Scientific and Practical Conference on Innovations in Non-Destructive Testing, SibTest 2015 - Altai, Российская Федерация
Продолжительность: 27 июл 201531 июл 2015

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Three-axis MEMS accelerometer for structural inspection». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать