Thermal measurement of losses of GaN power transistors for optimization of their drive

Lionel Hoffmann, Cyrille Gautier, Stephane Lefebvre, Francois Costa

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

2 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Thermal measurement of losses of GaN power transistors for optimization of their drive». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Engineering & Materials Science