Sub-micrometer resolution transverse electron beam size measurement system based on Optical Transition Radiation

A. Aryshev, N. Terunuma, J. Urakawa, S. T. Boogert, P. Karataev, D. Howell

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

3 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Sub-micrometer resolution transverse electron beam size measurement system based on Optical Transition Radiation». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Physics & Astronomy