Study and production of thin-film memristors based on TiO 2 - TiO x layers

E. V. Zhidik, P. E. Troyan, Y. V. Sakharov, Y. S. Zhidik, D. V. Korzhenko

Результат исследований: Материалы для журнала

Аннотация

Results of production of thin-film memristor MIM-structures based on the stoichiometric (TiO 2 ) and nonstoichiometric (TiO x ) titanium oxides and contacts without precious and rare-earth metals are given. It is shown that such memristor structures without precious metals show its operability only after the process of electrical forming.

Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи012022
ЖурналIOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Том498
Номер выпуска1
DOI
СостояниеОпубликовано - 16 апр 2019
Событие2nd International Telecommunication Conference on Advanced Micro- and Nanoelectronic Systems and Technologies, AMNST 2017 - Moscow, Российская Федерация
Продолжительность: 1 июн 20172 июн 2017

ASJC Scopus subject areas

  • Materials Science(all)
  • Engineering(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Study and production of thin-film memristors based on TiO <sub>2</sub> - TiO <sub>x</sub> layers». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать