Reliability assessment of a 1 MV LTD

J. Leckbee, J. Maenchen, S. Portillo, S. Cordova, I. Molina, D. L. Johnson, A. A. Kim, R. Chavez, D. Ziska

    Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

    20 Цитирования (Scopus)

    Аннотация

    A 1 MV linear transformer driver (LTD) is being tested with a large area e-beam diode load at Sandia National Laboratories (SNL). The experiments will be utilized to determine the repeatability of the output pulse and the reliability of the components. The 1 MV accelerator is being used to determine the feasibility of designing a 6 MV LTD for radiography experiments. The peak voltage, risetime, and pulse width as well as the cavity timing jitter are analyzed to determine the repeatability of the output pulse.

    Язык оригиналаАнглийский
    Название основной публикацииDigest of Technical Papers-IEEE International Pulsed Power Conference
    ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
    Страницы132-134
    Число страниц3
    ISBN (печатное издание)078039190X, 9780780391901
    DOI
    СостояниеОпубликовано - 2007
    Событие2005 IEEE Pulsed Power Conference, PPC - Monterey, CA, Соединенные Штаты Америки
    Продолжительность: 13 июн 200517 июн 2005

    Другое

    Другое2005 IEEE Pulsed Power Conference, PPC
    СтранаСоединенные Штаты Америки
    ГородMonterey, CA
    Период13.6.0517.6.05

    ASJC Scopus subject areas

    • Electrical and Electronic Engineering

    Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Reliability assessment of a 1 MV LTD». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Leckbee, J., Maenchen, J., Portillo, S., Cordova, S., Molina, I., Johnson, D. L., Kim, A. A., Chavez, R., & Ziska, D. (2007). Reliability assessment of a 1 MV LTD. В Digest of Technical Papers-IEEE International Pulsed Power Conference (стр. 132-134). [4084169] Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.. https://doi.org/10.1109/PPC.2005.300524