Proton beam deflection using silicon crystal at the KEK proton synchrotron

S. Strokov, V. Biryukov, Yu A. Chesnokov, I. Endo, M. Iinuma, H. Kuroiwa, T. Ohnishi, H. Sato, Seiji Sawada, T. Takahashi, K. Ueda

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

Аннотация

An experiment on deflection of a proton beam using a Silicon crystal was performed for the first time in Japan at the 12-GeV Proton Synchrotron of KEK. The (111) plane of the crystal was used to deflect a 12 GeV proton beam at an angle of 32.6 mrad. The beam extraction efficiency of the crystal was reached 13%. The divergence of the proton beam can be identified by comparison of the experimental data with simulated results.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииInternational Conference on Charged and Neutral Particles Channeling: Phenomena II
Подзаголовок основной публикацииPhenomena II
Том6634
DOI
СостояниеОпубликовано - 2007
Опубликовано для внешнего пользованияДа
СобытиеInternational Conference on Charged and Neutral Particles Channeling: Phenomena II - Rome, Италия
Продолжительность: 3 июл 20067 июл 2006

Конференция

КонференцияInternational Conference on Charged and Neutral Particles Channeling: Phenomena II
СтранаИталия
ГородRome
Период3.7.067.7.06

ASJC Scopus subject areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics
  • Computer Science Applications
  • Applied Mathematics
  • Electrical and Electronic Engineering

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Proton beam deflection using silicon crystal at the KEK proton synchrotron». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Strokov, S., Biryukov, V., Chesnokov, Y. A., Endo, I., Iinuma, M., Kuroiwa, H., Ohnishi, T., Sato, H., Sawada, S., Takahashi, T., & Ueda, K. (2007). Proton beam deflection using silicon crystal at the KEK proton synchrotron. В International Conference on Charged and Neutral Particles Channeling: Phenomena II: Phenomena II (Том 6634). [66340J] https://doi.org/10.1117/12.741859