POSITRON PROFILES AND POSITRON ANNIHILATION IN THIN LAYERS.

A. D. Pogrebnyak, V. A. Kuzminikh, K. P. Arefev

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

6 Цитирования (Scopus)

Аннотация

The anniilation photon angular distribution (APAD) for double-layer samples is measured. The minimum foil thickness of materials of various effective atomic numbers on the semiconductor GaAs support is determined. Their structure can be studied by the positron-spectroscopy method with the **2**2Na( beta ** plus , gamma ) emitter.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)145-151
Число страниц7
ЖурналPhysica Status Solidi (A) Applied Research
Том71
Номер выпуска1
СостояниеОпубликовано - мая 1982

ASJC Scopus subject areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «POSITRON PROFILES AND POSITRON ANNIHILATION IN THIN LAYERS.». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать