Positron annihilation spectroscopy of vacancy-type defects hierarchy in submicrocrystalline nickel during annealing

Pavel V. Kuznetsov, Yuri P. Mironov, Aleksey I. Tolmachev, Tanzilya V. Rakhmatulina, Yuri S. Bordulev, Roman S. Laptev, Andrey M. Lider, Andrey A. Mikhailov, Alexander V. Korznikov

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

3 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Positron annihilation and X-ray diffraction analysis have been used to study submicrocrystalline nickel samples prepared by equal channel angular pressing. In the as-prepared samples the positrons are trapped at dislocationtype defects and in vacancy clusters that can include up to 5 vacancies. The study has revealed that the main positron trap centers at the annealing temperature of ΔT= 20°C-180°C are low-angle boundaries enriched by impurities. At ΔT = 180°C-360°C, the trap centers are low-angle boundaries providing the grain growth due to recrystallization in-situ.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииAIP Conference Proceedings
ИздательAmerican Institute of Physics Inc.
Страницы327-330
Число страниц4
Том1623
ISBN (печатное издание)9780735412606
DOI
СостояниеОпубликовано - 2014
СобытиеInternational Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014 - Tomsk, Российская Федерация
Продолжительность: 3 сен 20145 сен 2014

Другое

ДругоеInternational Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014
СтранаРоссийская Федерация
ГородTomsk
Период3.9.145.9.14

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Positron annihilation spectroscopy of vacancy-type defects hierarchy in submicrocrystalline nickel during annealing». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать