Pecularities of surface layer behavior of intermetallic Ni63Al37 alloy (Um3490) at meso- and macroscale levels under compression

S. V. Panin, Sh A. Baibulatov

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

Аннотация

This article presents the results of investigations of deformation development patterns at the surface of loaded Ni63Al37 alloy specimens performed using the television-optical meter for surface characterization. The common pattern of deformation development with regard to strain peculiarities in the surface layer and in the bulk of the loaded specimens is discussed.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииProceedings - KORUS 2000: 4th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Страницы398-403
Число страниц6
Том3
ISBN (печатное издание)0780364864, 9780780364868
DOI
СостояниеОпубликовано - 2000
Событие4th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology, KORUS 2000 - Ulsan, Республика Корея
Продолжительность: 27 июн 20001 июл 2000

Другое

Другое4th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology, KORUS 2000
СтранаРеспублика Корея
ГородUlsan
Период27.6.001.7.00

ASJC Scopus subject areas

  • Clinical Biochemistry
  • Computer Networks and Communications
  • Biotechnology
  • Civil and Structural Engineering
  • Mechanics of Materials
  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Materials Chemistry
  • Surfaces, Coatings and Films

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Pecularities of surface layer behavior of intermetallic Ni<sub>63</sub>Al<sub>37</sub> alloy (Um3490) at meso- and macroscale levels under compression». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Panin, S. V., & Baibulatov, S. A. (2000). Pecularities of surface layer behavior of intermetallic Ni63Al37 alloy (Um3490) at meso- and macroscale levels under compression. В Proceedings - KORUS 2000: 4th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology (Том 3, стр. 398-403). [866121] Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.. https://doi.org/10.1109/KORUS.2000.866121