5 Цитирования (Scopus)

Аннотация

An on-line control method of crystal deflector quality based on parametric X-ray radiation is proposed. The technique considered will allow information to be received about the state of the deflector crystal structure directly in the local interaction area of the beam and the crystal.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)3876-3880
Число страниц5
ЖурналNuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Том266
Номер выпуска17
DOI
СостояниеОпубликовано - сен 2008

ASJC Scopus subject areas

  • Surfaces, Coatings and Films
  • Instrumentation
  • Surfaces and Interfaces

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «On-line control of crystal deflector quality». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать