Observation of spectral line splitting for parametric X-rays

Yu N. Adishchev, G. A. Pleshkov, A. P. Potylitsin, S. R. Uglov, S. A. Vorobiev

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

Аннотация

The spectral distribution and energy dependence of the yield of parametric X-rays for 200 to 900 MeV electrons transmitted through a silicon crystal have been measured. The measurements were performed in the Bragg geometry at an angle θ = 19° to the electron beam direction. The effect of spectral line splitting for parametric X-rays was observed.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)486-488
Число страниц3
ЖурналPhysics Letters A
Том120
Номер выпуска9
DOI
СостояниеОпубликовано - 23 мар 1987

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Observation of spectral line splitting for parametric X-rays». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать