New features of diffracted channeling radiation from electrons in Si and Lif crystals

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

1 Цитирования (Scopus)

Аннотация

It is shown that the band structure of transverse energy levels for (111) planar channeled electrons in the Si and LiF crystals qualitatively changes the angular distributions of X-rays emitted at the Bragg angles compared to calculations, which do not take into account this effect [5-7].

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)157-164
Число страниц8
ЖурналInternational Journal of Modern Physics A
Том25
Номер выпускаSUPPL. 1
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 июн 2010

ASJC Scopus subject areas

  • Atomic and Molecular Physics, and Optics
  • Nuclear and High Energy Physics
  • Astronomy and Astrophysics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «New features of diffracted channeling radiation from electrons in Si and Lif crystals». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать