Modification of diode X-ray radiation by electron multiple back-scatter from anode

A. V. Kirikov, V. V. Ryzhov, I. Y. Turchanovsky, V. I. Bespalov, V. P. Tarakanov

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

Аннотация

In high-power vacuum diodes with high-atomic -number anodes a large fraction of the electrons are back -scattered and modificate the all diode characteristics: electron and ion currents, the electron beam spectrum and thus the X-ray spectrum and efficiency. The last problem is very importen for the intense electron beam radiography. A hybrid PIC/Monte Carlo code is developed on the KARAT and Monte Carlo code base to study these problems. The results of the computer simulations are compered with experimental data.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииIEEE International Conference on Plasma Science
СостояниеОпубликовано - 2001
Событие28th IEEE International Conference on Plasma Science/ 13th IEEE International Pulsed Power Conference - Las Vegas, NV, Соединенные Штаты Америки
Продолжительность: 17 июн 200122 июн 2001

Другое

Другое28th IEEE International Conference on Plasma Science/ 13th IEEE International Pulsed Power Conference
СтранаСоединенные Штаты Америки
ГородLas Vegas, NV
Период17.6.0122.6.01

ASJC Scopus subject areas

  • Condensed Matter Physics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Modification of diode X-ray radiation by electron multiple back-scatter from anode». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Kirikov, A. V., Ryzhov, V. V., Turchanovsky, I. Y., Bespalov, V. I., & Tarakanov, V. P. (2001). Modification of diode X-ray radiation by electron multiple back-scatter from anode. В IEEE International Conference on Plasma Science