Аннотация
Study of the properties of thin GeO films as a function of the substrate temperature and the rate of evaporation of the condensate using the positron spectroscopy method is described.
Язык оригинала | Английский |
---|---|
Название основной публикации | Sov Phys Semicond |
Страницы | 794-795 |
Число страниц | 2 |
Том | 8 |
Издание | 6 |
Состояние | Опубликовано - дек 1974 |
ASJC Scopus subject areas
- Engineering(all)