INVESTIGATION OF THE CHARGE STATE OF IMPURITY ATOMS IN SEMICONDUCTING MATERIALS BY POSITRON ANNIHILATION METHOD.

K. P. Aref'ev, S. A. Vorob'ev, A. N. Grishin, V. N. Klimov, A. T. Shaposhnikov, G. I. Etin, A. A. Tsio

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовГлава

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «INVESTIGATION OF THE CHARGE STATE OF IMPURITY ATOMS IN SEMICONDUCTING MATERIALS BY POSITRON ANNIHILATION METHOD.». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Engineering & Materials Science