Investigation of the characteristics of CMOS ICs at low temperatures

S. V. Uchaikin

Результат исследований: Материалы для журналаСтатьярецензирование

2 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Certain types of complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) and high-speed complementary metal-oxide-semiconductor (HCMOS) integrated circuits (ICs) were investigated at temperatures T from 1.4 to 297 K. Basic parameters of integrated multiplexers operating at liquid helium temperature were measured. Integrated circuits of the K1564 and 74HC family fabricated by HCMOS technology exhibited the best characteristics at T = 4.2 K.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)581-584
Число страниц4
ЖурналInstruments and Experimental Techniques
Том40
Номер выпуска4
СостояниеОпубликовано - июл 1997
Опубликовано для внешнего пользованияДа

ASJC Scopus subject areas

  • Engineering (miscellaneous)
  • Instrumentation

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Investigation of the characteristics of CMOS ICs at low temperatures». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать