In-situ X-ray diffraction studies of time and thickness dependence of crystallization of amorphous TiO2 thin films and stress evolution

R. Kužel, L. Nichtová, Z. Matěj, J. Musil

Результат исследований: Материалы для журналаСтатьярецензирование

19 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «In-situ X-ray diffraction studies of time and thickness dependence of crystallization of amorphous TiO<sub>2</sub> thin films and stress evolution». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy