In-depth investigation of metallization aging in power MOSFETs

R. Ruffilli, M. Berkani, P. Dupuy, S. Lefebvre, Y. Weber, M. Legros

Результат исследований: Материалы для журналаСтатьярецензирование

4 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «In-depth investigation of metallization aging in power MOSFETs». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy