FUNCTIONAL SCHEMES FOR ELECTRONIC SPECTROMETRIC FLAW DETECTORS.

V. A. Lisin

    Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовГлава

    Аннотация

    A sensitivity comparison is presented for the following styles of spectrometric electronic flaw detector: single-channel, two-channel single-beam, and two-beam. The effects of electron-energy discrimination level at the detectors are studied.

    Язык оригиналаАнглийский
    Название основной публикацииSov J Nondestr Test
    Страницы710-713
    Число страниц4
    Том11
    Издание6
    СостояниеОпубликовано - ноя 1975

    ASJC Scopus subject areas

    • Engineering(all)

    Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «FUNCTIONAL SCHEMES FOR ELECTRONIC SPECTROMETRIC FLAW DETECTORS.». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Lisin, V. A. (1975). FUNCTIONAL SCHEMES FOR ELECTRONIC SPECTROMETRIC FLAW DETECTORS. В Sov J Nondestr Test (6 ред., Том 11, стр. 710-713)