Forming the defect structure in copper after exposure with high power microwave pulses

A. N. Didenko, E. V. Kozlov, Yu P. Sharkeev, A. S. Sulakshin, N. M. Filipenko, N. V. Girsova, S. V. Fortuna, Yu V. Medvedev

Результат исследований: Материалы для журналаСтатьярецензирование

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Forming the defect structure in copper after exposure with high power microwave pulses». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science