Extremely low emittance beam size diagnostics with sub-micrometer resolution using optical transition radiation

K. Kruchinin, S. T. Boogert, P. Karataev, L. J. Nevay, B. Bolzon, T. Lefevre, S. Mazzoni, A. Aryshev, M. Shevelev, N. Terunuma, J. Urakawa

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

2 Цитирования (Scopus)

Аннотация

Transition radiation (TR) appearing when relativistic uniformly moving charged particle (or bunch of particles) crosses a boundary between two media with different dielectric properties is widely used as a tool for diagnostics of particle beams in modern accelerator facilities. The best resolution which can be achieved using beam profile monitors based on TR in optical wave range has a limitation caused by a spatial resolution of an optical system. Using a method based on analyzing a visibility of the TR Point Spread Function one can achieve a sub-micrometer resolution. In this report we shall represent the recent experimental results of a micron-scale beam size measurement at KEK-ATF2. We shall discuss the hardware status and future plans.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииIBIC 2013
Подзаголовок основной публикацииProceedings of the 2nd International Beam Instrumentation Conference
ИздательJoint Accelerator Conferences Website (JACoW)
Страницы615-618
Число страниц4
ISBN (электронное издание)9783954501274
СостояниеОпубликовано - 1 дек 2013
Опубликовано для внешнего пользованияДа
Событие2nd International Beam Instrumentation Conference, IBIC 2013 - Oxford, Великобритания
Продолжительность: 16 сен 201319 сен 2013

Конференция

Конференция2nd International Beam Instrumentation Conference, IBIC 2013
СтранаВеликобритания
ГородOxford
Период16.9.1319.9.13

ASJC Scopus subject areas

  • Instrumentation
  • Nuclear and High Energy Physics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Extremely low emittance beam size diagnostics with sub-micrometer resolution using optical transition radiation». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Kruchinin, K., Boogert, S. T., Karataev, P., Nevay, L. J., Bolzon, B., Lefevre, T., Mazzoni, S., Aryshev, A., Shevelev, M., Terunuma, N., & Urakawa, J. (2013). Extremely low emittance beam size diagnostics with sub-micrometer resolution using optical transition radiation. В IBIC 2013: Proceedings of the 2nd International Beam Instrumentation Conference (стр. 615-618). Joint Accelerator Conferences Website (JACoW).