Energy efficiency of back-to-back method for induction traction motors testing

Evgeny V. Beyerleyn, Polina V. Tyuteva

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

6 Цитирования (Scopus)

Аннотация

In this paper the authors examined the possibility of using energy-efficient scheme to test induction traction motors by back-to-back load method. The authors present the results of mathematical and physical modeling of the back-to-back test method that confirm energy efficiency and usefulness of the offered scheme.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикации2014 IEEE 15th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM 2014 - Proceedings
ИздательIEEE Computer Society
Страницы359-361
Число страниц3
ISBN (печатное издание)9781479946686
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 янв 2014
Событие2014 IEEE 15th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM 2014 - Altai, Российская Федерация
Продолжительность: 30 июн 20144 июл 2014

Серия публикаций

НазваниеInternational Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM
ISSN (печатное издание)2325-4173
ISSN (электронное издание)2325-419X

Конференция

Конференция2014 IEEE 15th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM 2014
СтранаРоссийская Федерация
ГородAltai
Период30.6.144.7.14

ASJC Scopus subject areas

  • Electrical and Electronic Engineering
  • Atomic and Molecular Physics, and Optics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Energy efficiency of back-to-back method for induction traction motors testing». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Beyerleyn, E. V., & Tyuteva, P. V. (2014). Energy efficiency of back-to-back method for induction traction motors testing. В 2014 IEEE 15th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM 2014 - Proceedings (стр. 359-361). [6882547] (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM). IEEE Computer Society. https://doi.org/10.1109/EDM.2014.6882547