Electron beam deflection with channeling in a silicon crystal at the REFER electron ring

S. Strokov, T. Takahashi, I. Endo, M. Iinuma, K. Ueda, H. Kuroiwa, T. Ohnishi, Seiji Sawada

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

18 Цитирования (Scopus)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Electron beam deflection with channeling in a silicon crystal at the REFER electron ring». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Physics & Astronomy

Engineering & Materials Science