Electromagnetic emission within the heat field of the silicon samples with diferently polished surfaces

Konstantin Arefyev, Vladimir Salnikov, Evguenya Lukyanova

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

Аннотация

Results on measurement of impulse electromagnetic emission of the silicon samples with different surface treatment are presented in this paper.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикации8th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology - Proceedings: KORUS 2004
Страницы188-190
Число страниц3
Том2
СостояниеОпубликовано - 2004
Событие8th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology, KORUS 2004 - Tomsk, Российская Федерация
Продолжительность: 26 июн 20043 июл 2004

Другое

Другое8th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology, KORUS 2004
СтранаРоссийская Федерация
ГородTomsk
Период26.6.043.7.04

ASJC Scopus subject areas

  • Engineering(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Electromagnetic emission within the heat field of the silicon samples with diferently polished surfaces». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать

    Arefyev, K., Salnikov, V., & Lukyanova, E. (2004). Electromagnetic emission within the heat field of the silicon samples with diferently polished surfaces. В 8th Korea-Russia International Symposium on Science and Technology - Proceedings: KORUS 2004 (Том 2, стр. 188-190)