Effect of the band structure of energy levels on the angular distribution of diffracted X-ray radiation for positron plane channeling in silicon

Результат исследований: Материалы для журналаСтатьярецензирование

5 Цитирования (Scopus)

Аннотация

It is shown that the inclusion of the band structure of energy levels of channeled positrons (as in the case of electrons) leads to a qualitative change in the angular distribution of X-ray radiation.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)290-296
Число страниц7
ЖурналJournal of Surface Investigation
Том2
Номер выпуска2
DOI
СостояниеОпубликовано - апр 2008

ASJC Scopus subject areas

  • Surfaces, Coatings and Films

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Effect of the band structure of energy levels on the angular distribution of diffracted X-ray radiation for positron plane channeling in silicon». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать