Determination of the composition of ion-implanted MgO surface layers by Rutherford and resonant backscattering of ions

V. M. Zavodchikov, A. P. Kobzev, Yu Yu Kryuchkov, V. F. Pichugin, Valentina Victorovna Sokhoreva, T. S. Frangul'yan

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)8-9
Число страниц2
ЖурналTechnical Physics Letters
Том22
Номер выпуска1
СостояниеОпубликовано - янв 1996

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

Цитировать