Design of the X-ray micro-CT scanner TOLMI-150-10 and its perspective application in non-destructive evaluation

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

9 Цитирования (Scopus)

Аннотация

This paper presents the X-ray micro-CT scanner TOLMI-150-10 developed at Tomsk Polytechnic University. The scanner is used for non-destructive evaluation of materials and industrial samples by means of the X-ray micro-computed tomography (micro-CT). The key technical specifications and design of the scanner are presented in this paper. In addition, a number of examples for non-destructive evaluation are given. Recent results, obtained using the TOMLI system, are compared with those acquired with an existing commercial tomographic imaging solution.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииApplied Mechanics and Materials
Страницы3-10
Число страниц8
Том379
DOI
СостояниеОпубликовано - 2013
Событие4th International Scientific Practical Conference with Elements of School for Junior Scientists ("Innovative Technologies and Economics in Engineering") - Yurga, Российская Федерация
Продолжительность: 23 мая 201325 мая 2013

Серия публикаций

НазваниеApplied Mechanics and Materials
Том379
ISSN (печатное издание)16609336
ISSN (электронное издание)16627482

Конференция

Конференция4th International Scientific Practical Conference with Elements of School for Junior Scientists ("Innovative Technologies and Economics in Engineering")
СтранаРоссийская Федерация
ГородYurga
Период23.5.1325.5.13

ASJC Scopus subject areas

  • Engineering(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Design of the X-ray micro-CT scanner TOLMI-150-10 and its perspective application in non-destructive evaluation». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать