Automatic device for testing thermal resistance with thermoelectric effect

I. M. Vasiliev, A. I. Soldatov, A. A. Dementiev, A. A. Soldatov, A. Abouellaill

Результат исследований: Материалы для журнала


This paper presents the results of the developed device for testing thermal resistance of thermointerface. Experiments to determine thermal resistance in different cases of thermal interface application were carried out. Dependence of thermoEMF value is obtained, which occurs between semiconductor element body and cooling system radiator at different quality of thermal interface application.

Язык оригиналаАнглийский
Номер статьи012047
ЖурналJournal of Physics: Conference Series
Номер выпуска1
СостояниеОпубликовано - 11 июн 2020
Событие8th International Conference on Actual Trends in Radiophysics - Tomsk, Российская Федерация
Продолжительность: 1 окт 20194 окт 2019

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Automatic device for testing thermal resistance with thermoelectric effect». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать