Angular distributions of diffracted X-ray radiation from channeled electrons in Si and LiF Crystals: Influence of energy levels band structure

Результат исследований: Материалы для журналаСтатья

13 Цитирования (Scopus)

Аннотация

It is shown that the band structure of the energy levels of planar channeled electrons qualitatively changes the angular distributions of X-rays emitted at Bragg angles.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)3753-3757
Число страниц5
ЖурналNuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Том266
Номер выпуска17
DOI
СостояниеОпубликовано - сен 2008

ASJC Scopus subject areas

  • Surfaces, Coatings and Films
  • Instrumentation
  • Surfaces and Interfaces

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Angular distributions of diffracted X-ray radiation from channeled electrons in Si and LiF Crystals: Influence of energy levels band structure». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Цитировать