Angular distribution of diffracted x rays from (111) channeled electrons in Si: The effect of the band structure of energy levels

Результат исследований: Материалы для журналаСтатьярецензирование

24 Цитирования (Scopus)

Аннотация

It has been shown that the inclusion of the band structure of the energy levels of channeled electrons qualitatively changes the angular distributions of x rays at the Bragg angles, which can be useful for the experimental detection of the effect.

Язык оригиналаАнглийский
Страницы (с-по)555-559
Число страниц5
ЖурналJETP Letters
Том85
Номер выпуска11
DOI
СостояниеОпубликовано - авг 2007

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Angular distribution of diffracted x rays from (111) channeled electrons in Si: The effect of the band structure of energy levels». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

Цитировать