Active thermal NDT: Problems and solutions

Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетовМатериалы для конференции

2 Цитирования (Scopus)

Аннотация

This paper summarizes some common problems of thermal/infrared nondestructive testing and their possible solutions, including optimization of heat source and infrared imager parameters, suppression of additive and multiplicative noise and the use of inversion expressions for estimating defect parameters.

Язык оригиналаАнглийский
Название основной публикацииThermosense: Thermal Infrared Applications XXXVIII
ИздательSPIE
Том9861
ISBN (электронное издание)9781510601024
DOI
СостояниеОпубликовано - 2016
СобытиеThermosense: Thermal Infrared Applications XXXVIII - Baltimore, Соединенные Штаты Америки
Продолжительность: 18 апр 201621 апр 2016

Конференция

КонференцияThermosense: Thermal Infrared Applications XXXVIII
СтранаСоединенные Штаты Америки
ГородBaltimore
Период18.4.1621.4.16

ASJC Scopus subject areas

  • Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Condensed Matter Physics
  • Computer Science Applications
  • Electrical and Electronic Engineering
  • Applied Mathematics

Fingerprint Подробные сведения о темах исследования «Active thermal NDT: Problems and solutions». Вместе они формируют уникальный семантический отпечаток (fingerprint).

  • Виды деятельности

    • 1 Участие в конференции

    Thermosense: Thermal Infrared Applications-XXXVIII

    Vladimir Platonovich Vavilov (Участник)

    18 апр 201622 апр 2016

    Деятельность: Участие в конференции

    Цитировать

    Vavilov, V. P. (2016). Active thermal NDT: Problems and solutions. В Thermosense: Thermal Infrared Applications XXXVIII (Том 9861). [98610I] SPIE. https://doi.org/10.1117/12.2222980