• Источник: Scopus
  • Рассчитывается на основе количества публикаций, сохраненных в Pure, и цитирований из Scopus
1993 …2019

Результат исследований по году

Если Вы внесли какие-либо изменения в Pure, они скоро будут видимы здесь.
Фильтр
Документ

Поиск результатов

  • 2003

    Reliability of CoolMOS™ under extremely hard repetitive electrical working conditions

    Saint-Eve, F., Lefebvre, S. & Khatir, Z., 1 сен 2003, стр. 312-315. 4 стр.

    Результат исследований: Материалы для типов конференцийДокументрецензирование

    3 Цитирования (Scopus)
  • 2000

    Thermal analysis of high power IGBT modules

    Khatir, Z. & Lefebvre, S., 1 дек 2000, стр. 271-274. 4 стр.

    Результат исследований: Материалы для типов конференцийДокументрецензирование

    8 Цитирования (Scopus)
  • 1994

    Turn-off analysis of the IGBT used in ZCS mode

    Lefebvre, S., Forest, F., Calmon, F. & Chante, J. P., 1 дек 1994, стр. 99-104. 6 стр.

    Результат исследований: Материалы для типов конференцийДокументрецензирование

    1 Цитирования (Scopus)