Dzhigaev, D., Stankevič, T., Besedin, I., Lazarev, S., Shabalin, A., Strikhanov, M. N., Feidenhans'L, R. & Vartanyants, I. A., 2015, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods II.SPIE, Том 9592. 95920S
Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетов › Материалы для конференции