Moskalyov, J. A., Temnik, A. C., Chakhlov, S. V., Chekalin, A. S., Dmitrov, A. A., Lu, H., Zhou, H., Han, Y. & Pan, D., 1999, Proceedings of the International Symposium on Test and Measurement.Int Acad Publ, стр. 794-7974 стр. (Proceedings of the International Symposium on Test and Measurement).
Результат исследований: Материалы для книги/типы отчетов › Материалы для конференции